Mikrotest麦考特测厚仪检测方法及注意事项 |
点击次数:1849 更新时间:2019-12-24 |
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有关覆层无损检测方法,主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面,系有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。X射线和β射线反射法可以无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围小。因有放射源,故使用者必须遵守射线防护规范,一般多用于各层金属镀层的厚度测量。电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。磁性测量法及涡流测量法,随着技术的日益进步,特别是近年来引入微处理机技术后,测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1μm,精度可达到1%。又有适用范围广,量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用很广泛的仪器。采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。 磁吸引测量方法: 一、磁吸力原理麦考特测厚仪利用*久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度,这个距离就是覆层的厚度,所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形,所以磁性测厚仪应用很广。笃挚仪器测量仪基本结构是磁钢,拉簧,标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后,有一个弹簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大,当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲,依不同的型号又不同的量程与适应场合。在一个约350o角度内可用刻度表示0~100μm;0~1000μm;0~5mm等的覆层厚度,精度可达5%以上,能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准,价格也较低,很适合车间作现场质量控制。
使用和保存Mikrotest 麦考特G6 测厚仪时必须注意: ◆ 保证测厚仪远离*久磁铁或电磁铁, 远离强磁场、强电场; ◆ 测厚仪节勿猛烈碰撞; ◆ 测厚仪用完后将指轮逆时针旋转, 停在满刻度附近后再放入手提箱; ◆ 尽管Mikrotest 测厚仪非常结实, 也要象使用其它精密仪器一样, 小心加以爱护。 备选件 EPK 针对Mikrotest 测厚仪可提供以下备选件: ◆ 厚度标准板, 用于检验测厚仪; ◆ 布背包, 可在高空作业时使用; ◆ 湿膜测厚仪, 用来测量湿涂层。 |
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