手持式的是磁感应原理，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

 

　　台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

 

　　尼克斯膜厚仪应用优势：

　　1、快速：一般测量一个样品只需要10S～60S，样品可不处理或进行简单处理；

　　2、无损：物理测量，不改变样品性质；

　　3、准确：对样品可以分析；

　　4、直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快；

　　5、环保：检测过程中不产生任何废气、废水。

 

　　荧光X射线尼克斯膜厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。

 

　　尼克斯膜厚仪性能特点：

　　良好的射线屏蔽作用。

　　高分辨率探头使分析结果。

　　测试口高度敏感性传感器保护。

　　小孔准直器可以满足微小测试点的需求。

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度。

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。

　　高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。