1.标准校准：建议在平坦的表面上进行测量，并且如果测量对象的材料，尺寸和曲率与ElektroPhysik零板相同，则建议进行校准。
2.单点校准（不使用校准箔进行归零）：如果允许的测量误差大为±（读数的3％*加上探头的恒定误差），则建议使用。 （探头恒定误差示例：F.1.6：1μm）。。
3.两点校准（使用校准箔进行归零和校准）：如果预期读数将接近校准值，并且允许的探头误差大为±（1％... 3％of读数*（根据探头）加上恒定的探头误差）
*请参考实验室条件下提供的校准标准。
4.两点校准（使用一组两个校准箔）：
a）建议用于粗糙表面的测量。
b）如果期望的厚度在两个校准箔片之间，建议在光滑表面上进行准确测量。
5.通过涂层（CTC）进行校准：使用校准箔进行校准。如果测试样品已涂覆且没有未涂覆的样品可用于比较，则建议使用。此方法适用于以下探头：F05，F1.6，F3和FN1.6（仅含铁零件），F1.6 / 90，F2 / 90，F10，F20和F50。
请注意：
在本手册中，“校准箔”一词适用于所有校准标准，包括通常不被描述为“箔”的那些：厚度分别为2mm，5mm和10m的那些。

校准是进行准确测量的*重要要求。 校准样品与产品样品的距离越近，校准和读数的准确性就越高。 例如，如果要在直径为6 mm的ST37（低碳钢）钢制圆柱体上测量产品，则未涂覆样品的校准必须在具有相同直径的类似质量的钢制圆柱体上进行。
校准样品必须通过以下方式与产品样品相对应：
·曲率半径
·基材材料性能
·基材厚度
·测量区域的大小
·校准点
注意：校准样品必须始终与产品本身的测量点相同，尤其是在小零件的角和边缘的情况下。