尼克斯CMI153 涂层测厚仪

CMI153 涂层测厚仪结合磁感应和电涡流技术，在CMI150涂层测厚仪基础上，通过增强操作性能及出色的底材灵敏度，改进了测量探头。CMI153涂层测厚仪适用于多种配置，可测量有色金属底材上的非导电涂层和钢铁底材上的非磁性涂层。

• 有色金属和有色金属基体涂层测量
• 铁基材，磁感应：0.001-2.04mm（0.1-80mils）
• 有色金属基材，涡流：0.001-1.52mm（0.1-60mils）
• zui低有色金属和有色金属基板厚度：305？m，12mils
• 精度：±（2 m +读数的3％）或±（0.1mils +读数的3％

牛津仪器CMI153是一种高品质且经济实惠的涂层厚度测量仪器。 CMI153涂层厚度分析仪适用于有色金属基材（主要是Al，Cu，接近100％IACS导电性要求）和非铁涂层（钢铁，铁）的非导电涂层）。涡流技术非导电性有色金属如铝，黄铜或铜：特氟隆，搪瓷，环氧树脂，阳极氧化，油漆和粉末涂层。非磁性涂层在钢铁或铁基材上的磁感应技术：锌，镉，油漆和粉末涂层。该系统专门设计用于处理压片机，涂布机和优质专业人员的需求。

理想的方法解决方案：

1.油漆和粉末涂层

2.涂层检查员

3.电镀厂

4.涂装承包商

5.汽车和航空航天业的完成者。

关于常规涂镀层测厚仪的原理：

  对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关和标准中称为覆层（coating）。

  覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

  覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

  X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

  随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。

  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。