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产品名称:
MiniTest730 F2 HD
发布时间:
2024-08-31
产品品牌:
ElektroPhysik/德国EPK
产品特点:
MiniTest730 F2 HD
新的MiniTest700涂层测厚仪产品线,加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在涂层测厚市场的。
- 创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
- 测量范围达15mm,可F、N或FN探头,提供内置或外接探头
  MiniTest730 F2 HD的详细资料:

MiniTest730 F2 HD

 

新的MiniTest700涂层测厚仪产品线,加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在涂层测厚市场的。
- 创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
- 测量范围达15mm,可F、N或FN探头,提供内置或外接探头
- FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错


优点一览:

- SIDSP使测量不受干扰,测值更加
- 可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
- FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
- 温度补偿功能避免温度变化引起的错误
- 生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
- 大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
- 读数和统计值能单独调出
- 超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
- 菜单指引操作,25种语言可选
- 带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
- 可下载更新软件

技术参数
 

探头特性F1.5,N07,FN1.5F2F5,N2.5,FN5F15
FNFFNF
测量范围0~1.5mm0~0.7mm0~2mm0~5mm0~2.5mm0~15mm
使用范围小工件,薄涂层粗糙表面标准探头,使用广泛厚涂层
测量原理磁感应电涡流磁感应磁感应电涡流磁感应
信号处理探头内部32位信号处理(SIDSP)
±(1μm+0.75%读值)±(1.5μm+0.75%读值)±(5μm+0.75%读值)
重复性±(0.5μm+0.5%读值)±(0.8μm+0.5%读值)±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率0.05μm0.1μm1μm
小曲率半径(凸)1.0mm1.5mm5mm
小曲率半径(凹,外置探头)7.5mm10mm25mm
(凹,内置探头)30mm30mm30mm
小测量面积Ø5mmØ10mmØ25mm
小基体厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm
连续模式下测量速度每秒20个读数
单值模式下大测量速度每分钟70个读数
产品相关关键字: 测厚仪 EPK测厚仪 MiniTest730
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