泰勒霍普森surtronic duo大量程粗糙度仪

Surtronic DUO—可分离式设计——提供较高的表面粗糙度测量的可靠性和±5%的精度。

Surtronic DUO是一种便携式、车间用工具，用于快速测量表面粗糙度。这种电池驱动的装置可以作为小型入门级仪器，也可以作为具有多功能检测机构生产工具。它测量生产过程控制检测常用的两个参数Ra和Rz。

英国泰勒公司 SURTRONIC DUO 粗糙度仪为英国泰勒公司推出的新款便携式表面粗糙度仪。SURTRONIC DUO 粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，可以在一米外遥控操作；其设计可满足不同的技术与工作环境要求，通用货号订货编号：112-3115。大量程粗糙度仪（Ra）： 大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：大值199μm（7800μin）

SURTRONIC DUO 粗糙度仪为英国泰勒公司推出的新款便携式表面粗糙度仪。DUO通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

SURTRONIC DUO 粗糙度仪仪器特点：

快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

携带方便DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

经外接口 操作者可在距离被测工件1m处操作测量。

校准方便DUO具有自身校准标准，可预设标准值，通过LCD显示出来。

测针保护不用时，设“park”位置可全面保护测针。

人体工程学设计

SURTRONIC DUO 粗糙度仪技术指标：

Ra(算术平均偏差，以前称为CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采样长度内轮廓线以下的大高度)
Rp(采样长度内轮廓线以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采样长度内的大峰到谷)
偏度-关于平均线的轮廓对称度的测量
Rq(轮廓线与平均线的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面轮廓锐度的测量)

技术参数：