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产品名称: |
byk4563三角度光泽度仪江浙真品供应 |
发布时间: |
2024-08-31 |
产品品牌: |
BYK/德国 |
产品特点: |
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byk4563三角度光泽度仪江浙真品供应 笃挚仪器代理供应德国bYK便携式光泽度仪,BYK4563,欢迎在线留言!德国BYK4563作为BYK4446升级版产品,它是一款集合高度、使用简便和多功能于一体的光泽仪,为当今品管部门的标准而设计。拥有智能的数据通讯软件,是专业的数据管理和有效数据分析的理想工具。 BYK4563微型三角度光泽度仪主要应用于涂料、塑料薄膜纸张、金属表面光泽度及涂层厚度测量。 微型光泽仪S型:哑光表面处理不仅是新的设计趋势,而且对于要求表面无反射或低反射这类应用而言也是至关重要的- 例如汽车内饰件。通常有各种各样的材料,从皮革到塑料,同时使用时需要和谐*。另外,从大颗粒到精细的条纹等各种不同的表面结构通常呈现出非常低的光泽。为了确保在不同部件上*的视觉感受,必须规定极严格的允差范围。只有极其精准的测试仪器才能客观地控制生产。新型光泽仪S系列产品提升了60°角度下在低光泽(0-20GU)范围内的测量精度。通过在光泽仪生产过程中具有的校准程序,保证了的精度。 微型光泽仪XS型:小口径光泽仪适用于小部件表面测量,很多产品不仅是由不同的部件构成,同时要求这些部件具有类似的表面外观。造型优美的设计已成为产品能否成功的重要因素,诸如手机、电脑或者家用电器。需要将小部件整合到大部件中并融为一体,例如框架、按键以及装饰性的零部件。这些产品的大小和设计使它们很难用传统的光泽仪进行评估。微型光泽仪XS为小口径60°光泽仪,测量口径2x4mm,是测量小部件光泽的理想方案,确保使之与大部件相统一。额外新增的版本是增强型微型60°光泽仪XS-S,其技术性能适用于测量非常低光泽表面的产品。特殊应用的光泽测量特殊的材料要求特殊的测量角度:陶瓷材料,塑料薄膜和硬质塑料,纸张和硬纸板不仅可用 20°,60°, 85°常规角度进行测量,也可按照行业标准选择45°或75°。微型光泽仪45°对于中低光泽产品,塑料薄膜和硬质塑料,不论透明还是不透明材质,通常都用45°角来测量。对于透光的薄膜,请用型号为5015的黑色耐擦洗实验板作为哑光黑色背景(174页)垫于样品背后。如果没有合适的背景板,测量会发生错误。标准的测量方法要求每个样品至少测量三个点,以获取光泽均质性指征。微型光泽仪统计测量模式,可显示平均值和差值范围或者显示测量样品的均质性的标准偏差值。微型光泽仪45°:特别应用在陶瓷、塑料盒薄膜的光泽测量陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光泽仪,通过测量失光率可以对比这些材料的耐酸性,耐碱性或者其他环境因素的影响。 德国毕克BYK4563微型三角度光泽度仪产品功能特性: 取替以往的简单黑白屏显示,符合人体工学和操作简单是设计的要点所在。微型光泽仪的体积不大也不小– 刚好适合握在手中。滚轮操作、多语言显示和彩色显示屏的简易导航菜单使光泽测量从未变得如此简单。 标准板OK–校准OK精准的读数要求有可信赖的校准。光泽仪和校标底座是一对*的组合:光泽仪的标准板被安置在校标底座内始终受到很好的保护。*之处在于:智能的自动诊断功能确保长时间稳定的校准,告诉您何时需要校准,甚至还能检查标准板是否干净。 从哑光到镜面光泽用微型光泽仪,您可以对涂料、塑料或高光泽的金属等任何材料进行光泽测量。测量范围从哑光产品扩展至镜面这类反射高达2000个光泽单位的产品表面,自动校准且无需额外校正。 不同的工作需要不同的工具。使用仪器上的滚轮能简单快速地 显示所需功能–甚至无需通过电脑: 基本测量模式:可为您快速简单地测量几个样品的工具。 统计测量模式:并不仅仅显示平均值,而且还可以所有统计数据用于判断是否有测量误差或者用于样品的均质性判定。您可自定义所有想看到的数据:平均值,标准偏差,范围,大值/小值… 差值模式 :允许您定义一个带有合格/不合格允差限的参考值,所有实测值将与所选择的参考值进行对比。合格/不合格将通过高分辨率的彩色屏显示出来-理想的生产控制模式。 连续测量模式:是快速检查大面积样品的均质性有效的方法。您确定好测量间隔后将微型光泽仪在样品上持续滑行即刻得到连续测量结果。测量结束后,屏幕显示平均值、大/小值的范围。 德国毕克BYK4563微型三角度光泽度仪符合国际标准: ISO 2813, 7668 ASTM D 523, D 2457 DIN 67530 JIS Z 8741 德国毕克BYK4563微型三角度光泽度仪技术参数: 测量范围:0-2000GU 重复性:0-100GU ±0.2GU;100-2000GU ±0.2% 重现性:0-100GU ±0.5GU;100-2000GU ±0.5% 光路:20°、60°、85°(高、中、低光泽) 测量面积:9X15mm 光谱敏感度:CIE standard observer for illuminant CIE-C 连续模式:实测值、平均值、小值、大值 差值模式:50个附有允差的标准记忆 统计模式:每个样品测量点的个数从2-99可选择三行显示可选择:实测值、 平均值、小值、大值、差幅值、标准偏差、差值、合格/不合格 记忆:带有日期和时间的999个读数记忆功能 接口:串口RS232 软件:easy-link 测量时间:0.5秒/角度 尺寸:160x60x30mm 重量:0.4kg
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