扫描原理

扫描测量提供了一种从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。

扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。

雷尼绍扫描测头*特色的轻巧无电源机构（无马达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的偏移量，以获得更高的精度和更快的动态响应。

扫描系统如何采集并分析表面数据？

扫描测头提供连续的偏移量输出，与机器位置相结合，从而获得表面位置数据。进行扫描测量时，测头测尖开始与工件接触，然后沿工件表面移动，采集测量数据。在整个测量过程中，须将测头测针的偏移量保持在测头的测量范围内。

要想取得理想测量结果，需要传感器与机器控制紧密集成，以及良好的滤波运算，以将合成数据转换为可用的表面信息。扫描驱动算法适用于工件轮廓测量，改变扫描速度使之匹配曲率的变化（表面越平，速度越快），然后调整数据采集速率（表面变化越快，采集的数据越多）。

特性与优点:

• 世界上小的扫描测头，直径仅为25 mm

  一系列FCR25模块交换系统，每一种系统都允许各式SP25M系统元件存储在每一个端口中。

  • SM25扫描模块和TM25-20 TTP模块转接头可直接存储在FCR25端口中
  • SH25扫描测针吸盘需要PA25-SH转接头
  • TP20模块可借助PA25-20转接头存放
• 优异的计量性能 — 独立的光学传感和三次多项式补偿
• 五个模块在各种测针长度（长可达400 mm）范围内均具有理想的性能
• 二合一传感器 — 扫描和触发
• 防碰撞保护功能，测针交换简单
• 快速简便的测头标定循环程序
• 适用于轮廓和外形测量
• 适用于机动可重复定位测座，灵活性更强，扫描循环时间更短
• 设计简洁、刚性好，可靠性更高 — 无马达或锁定机构

SP25M模块和测针吸盘:

一系列模块组件使SP25M用户能够自建自我需求的测头能力。

每一种SM25-#扫描模块在增益和弹簧刚性方面都经过优化处理，可适应规定的测针长度范围。每一种模块都有相匹配的SH25-#测针吸盘。

SH25-3和SH25-4测针吸盘是一根固定的碳纤维杆，上面安装了M3测针，提供合适的工作长度。

同时，SP25M在使用 SM25-1 / 2 / 3 / 4 / 5扫描模块和原装标准测针吸盘 (SH25-1 / 2 / 3 / 4 / 5) 时，可以安装曲柄式（非直式）测针配置，但是在需要较大偏置的场合，要实现理想测量性能，雷尼绍建议使用SH25-2A / 3A / 4A系列测针吸盘，该测针吸盘专门用于解决此类测针组合可能导致的问题。

SP25M:

直径仅为25 mm，配备一系列扫描及触发模块，SP25M是世界上小型的多用途扫描测头系统。

SP25M由两个传感器组成，包含在一个外壳中。用户可从五个扫描模块（可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针）中选择任意一个，与转接模块（与雷尼绍的TP20系列测头模块兼容）进行切换。这一功能可实现在单个测头系统中进行扫描和触发测量。

SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时，这些组合具有的测触能力，便于检测各种零件特征。

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