xdlm 237 -菲希尔x射线荧光测厚仪代理

德国菲希尔FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射线荧光镀层测厚和材料分析仪是普遍适用的能量色散X射线光谱仪。 它们构成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列开发的下一步。 像它们的前辈一样，它们特别适合于无损厚度测量和薄涂层分析以及批量生产的零件和印制板上的自动测量。有三个型号：XDLM 231具有平面支撑台，XDLM 232具有手动操作的X / Y台。 XDLM 237配备了一个电动X / Y平台，当打开防护罩时，该平台会自动移到装载位置。

应用实例：

XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如良好或突起，测量这些区域必须使用很小的准直器或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品时，就要使用开槽的准直器以获得*大的信号强度。

电镀液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)

防腐保护性镀层: Zn/Fe

主要特征

  ✔ 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。
 ✔ *工作条件:50KV,50W
 ✔ X射线探测器采用比例接收器
 ✔ 准直器：固定或4个自动切换，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
 ✔ 基本滤片：固定或3个自动切换
 ✔ 测量距离可在0-80 mm范围内调整
 ✔ 固定样品支撑台 ，手动XY工作台
 ✔ 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。
 ✔ 刻度线经过校准，显示实际测量点大小。
 ✔ 设计获得许可，防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节

典型应用领域

 ✔ 大批量电镀件测量
 ✔ 防腐和装饰性镀层，如镍或铜上镀铬
 ✔ 电镀行业槽液分析
 ✔ 线路板行业如薄金，铂和镍镀层的策略
 ✔ 测量接插件和触点的镀层
 ✔ 电子和半导体行业的功能性镀层测量
 ✔ 黄金，珠宝和手表行业

主要技术参数：