微电脑多功能电解测厚仪 CMS2 /CMS2 STEP 一个测量系统包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一个有测量槽的支架(例如:STEP测量槽) 。各种测量台设计适合不同的应用。 CMS2可以测量几乎所有基材上金属镀层的厚度,包括多镀层结构; 在多层镍的量监控中用于对镀层厚度和电位差的标准化STEP测试。
查看详细介绍多功能电解质测厚仪COULOSCOPE CMS2 作为测量镀层厚度*简单的方法之-一,库仑法可以用于各种镀层组合。尤其对于多镀层结构,当 允许破坏性测量时,它提供了一个比X射线更经济的替代方法。强大并且用户友好的COULOSCOPE CMS2适用于电镀行业的生产监控和成品的质量检验
查看详细介绍cms2-step微电脑多功能电解测厚仪 库仑法是一种简单易行的电化学分析方法,可用于确定金属涂层的厚度。 尽管该方法主要用于检查电镀涂层的质量,但它也适用于检测印刷电路板上剩余纯锡的厚度。
查看详细介绍微电脑多功能电解测厚仪Couloscope CMS2 德国FISCHER菲希尔COULOSCOPE CMS2库伦法测厚仪-----根据库仑法测量镀层厚度和多层镍电位差。库仑法是一种简单易用能够确定金属镀层厚度的电化学分析方法。
查看详细介绍微电脑多功能电解测厚仪STEP 库仑法是一种简单易用能够确定金属镀层厚度的电化学分析方法。 这个方法主要应用于检查电镀层的质量,现在也适用于监控印刷线路板剩余纯锡的厚度。
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