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  无损镀银测厚仪 fischer x-ray xdl 230

  无损镀银测厚仪 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能完美胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。

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  多层镀镍镀银测厚仪（电解破坏式）

  多层镀镍镀银测厚仪（电解破坏式） 库仑法是一种简单易用能够确定金属镀层厚度的电化学分析方法。 这个方法主要应用于检查电镀层的质量，现在也适用于监控印刷线路板剩余纯锡的厚度。

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  电镀银测厚仪Couloscope CMS2 库仑仪

  电镀银测厚仪Couloscope CMS2 库仑仪 COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪的仪器通过电解去除层来测量涂层厚度。 特别地，库仑法可以用于地确定任何种类的基底上的多层。

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