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xan500fischer德国* 手持式、台式、在线： XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。
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fischer镀层测厚仪RMP30-S现货供应 该便携式设备采用 4 点电阻法，十分适合测量多层电路板上薄镀层的厚度。这种电路板上的多层铜镀层通常被环氧树脂等绝缘体隔开。SR-SCOPE 的优势是利用电阻法测量不会受到其他层的影响，因此能够精确测定上层面铜层的厚度。
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fischer测厚仪mp0活动特惠小巧、方便且稳固 – MP0 和 MP0R 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的外壳和耐磨损的探头，它们是可以直接用于现场可靠测量的理想设备。
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便携式x射线测厚仪* XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。
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涂层测厚仪现货供应新款上市 德国Fischer FMP10涂镀层测厚仪，德国Fischer FMP10 手持式镀层测厚仪涂层测厚仪是一款标准手持绿油厚度测量仪，用于对几乎所有金属上的涂层进行非破坏性厚度测量，尤其是PCB版上面的绿油测厚仪，非常精准，是华为，富士康等大型的工厂的绿油厚度检测的镀层测厚仪。
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笃挚现货优质fischermp0涂层测厚仪膜厚仪由德国生产，该MP0测厚仪集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能，可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。Fischer 的进口测厚仪产品线涵盖了测量和分析仪器，广泛应用于各个工业领域。德国FISCHER菲希尔MP0涂层测厚仪膜厚仪测量时使用合适的测量方法，可以获得准确的测量结果以及较佳的重复精度。
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测厚仪探头Fischer FD10 来自德国Fischer双功能测厚仪探头FD10，多适用于主机DualScope FMP20和DualScope FMP40，是标准两用探头，适用于磁感应以及涡流法测量测厚仪上，能够自动识别测量方式，显示仪器。
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德国菲希尔fischer xdl-230 镀层膜厚测试仪 德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
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fischer FMP30 铁素体含量检测仪 笃挚代理由fischer公司生产，测量精度高，可以准确的测量奥氏体钢以及合金钢中铁素体的含量，确保工件运行安全可靠不发生事故。仪器小巧玲珑简单便携易于上手。
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德国fischer DualScope FMP20 涂镀层测厚仪能够或许自动识别底材资料而且集成为了两种丈量办法，使这个系列的仪器能够丈量钢材和铁材亦或长短铁磁基材上的大部分涂镀层的厚度。因为聚集了两种丈量办法，这个系列的仪器还能够或许在一次丈量过程当中同时测得两层涂镀层的厚度（油漆层/锌层），而且分离表现进去。
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进口铁素体检测仪设备特性FISCHER fmp30 无损测量奥氏体钢和双相钢内的铁素体含量，只需一次校准就能满足常用的测量范围0.1-90FN。。仪器能识别所有的磁性部件，也就是说，除了delta铁素体，还能识别其转化形式马氏体。
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德国Fischer FMP30系列多个应用程序测厚仪 DELTASCOPE® 用于钢和铁上的涂镀层 ISOSCOPE® 用于铝和其他非铁磁性金属上的涂镀层 DUALSCOPE® 具有自动底材识别并兼具两种测量方法（磁感应和涡流）；DUALSCOPE 可测量铁/钢或非铁磁性金属以及非导电底材上的多种涂镀层 非铁磁性金属、铁或钢上的微米级涂镀层 使用非铁磁性金属制成的厚涂层或钢上的保护涂镀层
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测镀银厚度仪-Fischer Couloscope CMS2 库仑法是一种简单易用能够确定金属镀层厚度的电化学分析方法。 这个方法主要应用于检查电镀层的质量，现在也适用于监控印刷线路板剩余纯锡的厚度。 CMS2可以测量几乎所有基材上金属镀层的厚度，包括多镀层结构;它的工作原理是根据阳极溶解的库仑法。
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华东代理fischer xdl-b镀层测厚仪 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下，单一镀层、二元合金层、三元合金层和双镀层例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/C
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Fischer铁素体校准标准片 套件（含证书） Helmut Fischer提供鉴定过的校准标准片供客户校准仪器，这些标准片可以追溯到TWI二级标准片。标准片上标明了两种单位：铁素体个数FN和百分比含量%Fe。可通过发货前设置修正系数或用客户定制的标准片校准仪器来减少工件几何形状（曲率、厚度等）对测量的影响
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德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。 通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了新的软件和硬件技术，FISCHER 公司的X射线仪器具有其*的特点
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fischer elektronik测厚仪代理现货 涂镀层测厚仪 别名：涂层测厚仪，镀层厚度测量仪，涂镀层厚度无损测量仪，手持式涂镀层测厚仪，表面电镀层厚度测量仪，油漆涂层测厚仪，便携式涂层测厚仪，*涂层测厚仪，无损测厚仪，覆层测厚仪。。。
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德国HELMUT FISCHER铁素体含量测量仪 Feritscope FMP30采用磁导原理，铁素体含量是通过磁导率确定。主要性能参数是通过在较有名实验室里大量实验样件的基础上得到，并存储在仪器内。通过正确校准标准试块测量铁素体含量，测量的精度得到改进、提高。
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德国fischer铜箔厚度测试仪 菲希尔能提供多样的产品种类，包括大量创新性的测试仪器，应用于镀层厚度测量、材料分析和测试、及纳米压痕等领域。您行业中各种应用都可以在这里一站式地得到完美解决，从而让您能以高的准确度获得可靠的测试结果。
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