TP200/TP200B测头本体SF(标准测力) TP200采用微应变片传感器,实现优异的重复性和准确的三维轮廓测量,即使配用长测针时也不例外。传感器技术提供亚微米级的重复性,并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件,确保了在数百万次触发中的可靠操作。
查看详细介绍TP200标准测力测头模块A-1207-0001 现货 TP200包含TP200测头体(传感器)和测力模块 组合1 包含标准测力模块和测头体A-1207-0001 组2 包含低测力模块和测头体A-1207-0002 TP200传感器(测头体)型号为A-1207-0020
查看详细介绍TP200 / TP200B测头模块 TP200采用微应变片传感器,实现优异的重复性和准确的三维轮廓测量,即使配用长测针时也不例外。传感器技术提供亚微米级的重复性,并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题
查看详细介绍Renishaw TP200坐标机测头理想性价比 触发式测头测量离散的点,是检测三维几何工件的理想选择。雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统,既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测,也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。
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