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  TP200/TP200B测头本体SF（标准测力）

  TP200/TP200B测头本体SF（标准测力） TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和准确的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。

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