XDAL237 X射线荧光测厚仪 凭借电机驱动(可选)与自上而下的测量方向,XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号,从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。在设计上,FISCHERSCOPE XRAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。
查看详细介绍xan500fischer德国* 手持式、台式、在线: XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用,也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。
查看详细介绍便携式x射线测厚仪* XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用,也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后,XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析,还能测量镀层厚度,并可实现无校准(不需标准片)测量。
查看详细介绍德国Fischer x射线测厚仪 XULM 240代理 XULM特别适合测量细小的部件如连接器,触点或线,也可以测量印刷线路板上的Au,Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量,20秒的重复精度可达2.5nm。
查看详细介绍Fischerscope x-ray xan120荧光x射线测厚仪 但是,如果合金中很多元素要测量或存在光谱重叠情况,那么配备半导体探测器的仪器,如XAN120,应该更加适合。由于具备非常好的分辨率,它也可以用来区分例如在牙合金中非常关键的金和铂以及融合的贵金属合金。
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