华东代理fischer xdl-b镀层测厚仪 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下,单一镀层、二元合金层、三元合金层和双镀层例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/C
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